Diagnose van metaalhaartjes-storingen in AF114 en soortgelijke transistors

Meetopstelling voor de diagnose van metaalhaartjes-storingen. (Foto met dank aan Anthony Francis-Jones)
AF114-germaniumtransistors en aanverwante transistors zoals de AF115 tot en met AF117 waren in de jaren zestig van vorige eeuw erg populair. Maar ze kregen al snel de reputatie dat ze vaak defect raakten.
Dit kwam door wat ze juist betrouwbaarder had moeten maken. Namelijk de behuizing die de germaniumtransistor binnenin afschermt en welke is verbonden met een vierde ‘afscherming’-pin.
Deze storingsmodus wordt gedemonstreerd in de onderstaande video van Anthony Francis-Jones. Hierin test hij een aantal nieuwe-oude-voorraad AF-serie transistors, die allemaal defect blijken te zijn. Ze vertonen duidelijke metaalhaartjesgroei aan de buitenkant van de behuizing.




VERON
Deze week in ‘Kort radioamateurnieuws’:


